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ENCICLOPEDIA DE RADIOELECTRÓNICA E INGENIERÍA ELÉCTRICA Tester de diodos y transistores bipolares. Enciclopedia de radioelectrónica e ingeniería eléctrica.
Enciclopedia de radioelectrónica e ingeniería eléctrica. / Tecnología de medición La mayoría de los probadores modernos (multímetros) tienen funciones integradas para probar diodos y, a veces, transistores. Pero si su probador no tiene estas funciones, puede ensamblar un probador de diodos y transistores con sus propias manos. A continuación se muestra un proyecto de prueba basado en el microcontrolador PIC16F688. La lógica para probar diodos es muy simple. Un diodo es una unión PN que se sabe que solo conduce corriente en una dirección. Por lo tanto, un diodo en funcionamiento conducirá la corriente en una dirección. Si el diodo conduce corriente en ambas direcciones, entonces el diodo no funciona, está roto. Si el diodo no conduce en ninguna dirección, entonces el diodo tampoco está funcionando. La implementación del circuito de esta lógica se muestra a continuación.
Esta lógica se puede adaptar fácilmente para una prueba de transistor bipolar que contiene dos uniones PN: una entre la base y el emisor (unión BE) y otra entre la base y el colector (unión BC). Si ambas uniones conducen corriente en una sola dirección, el transistor está funcionando; de lo contrario, no funciona. También podemos identificar el tipo de transistor pnp o npn determinando la dirección de conducción de la corriente. Para probar transistores, el microcontrolador utiliza 3 entradas/salidas
Secuencia de prueba de transistores: 1. Encienda la salida (fije a uno) D2 y lea D1 y D3. Si hay una unidad lógica en D1, la unión BE conduce corriente; de lo contrario, no lo hace. Si D3 es 1, entonces el BC conduce corriente, de lo contrario no lo hace.
Además, si BE y BC conducen corriente, entonces el transistor es de tipo npn y funciona. Sin embargo, si EB y CB conducen corriente, entonces el transistor tipo pnp también está funcionando. En todos los demás casos (por ejemplo, EB y BE conducen corriente, o ambas transiciones de BC y CB no conducen, etc.), el transistor no está en funcionamiento. Diagrama esquemático del probador de diodos y transistores y descripción.
El circuito del probador es muy simple. El dispositivo tiene 2 botones de control: Select (selección) y Detalle (más). Al presionar el botón Seleccionar, se selecciona el tipo de prueba: prueba de diodo o transistor. El botón Detalle solo funciona en el modo de prueba de transistores, la pantalla LCD muestra el tipo de transistor (npn o pnp) y el estado de conducción de las uniones del transistor. Las tres patas del transistor bajo prueba (emisor, colector y base) están conectadas a tierra a través de una resistencia de 1 kΩ. Para las pruebas se utilizan los pines RA0, RA1 y RA2 del microcontrolador PIC16F688. Para probar el diodo, solo se usan dos salidas: E y K (marcadas como D1 y D2 en el diagrama).
programa El software para este proyecto está escrito usando el compilador MikroC. Durante las pruebas y la programación, tenga cuidado y siga los ajustes de las entradas/salidas del MK (RA0, RA1 y RA2). a menudo cambian durante el funcionamiento. Antes de establecer cualquier salida en 1, asegúrese de que las otras dos E/S de la MCU estén definidas como entradas. De lo contrario, son posibles conflictos de entradas/salidas del MK.
/*
Project: Diode and Transistor Tester
Internal Oscillator @ 4MHz, MCLR Enabled, PWRT Enabled, WDT OFF
Copyright @ Rajendra Bhatt
November 9, 2010
*/
// LCD module connections
sbit LCD_RS at RC4_bit;
sbit LCD_EN at RC5_bit;
sbit LCD_D4 at RC0_bit;
sbit LCD_D5 at RC1_bit;
sbit LCD_D6 at RC2_bit;
sbit LCD_D7 at RC3_bit;
sbit LCD_RS_Direction at TRISC4_bit;
sbit LCD_EN_Direction at TRISC5_bit;
sbit LCD_D4_Direction at TRISC0_bit;
sbit LCD_D5_Direction at TRISC1_bit;
sbit LCD_D6_Direction at TRISC2_bit;
sbit LCD_D7_Direction at TRISC3_bit;
// End LCD module connections
sbit TestPin1 at RA0_bit;
sbit TestPin2 at RA1_bit;
sbit TestPin3 at RA2_bit;
sbit Detail at RA4_bit;
sbit SelectButton at RA5_bit;
// Define Messages
char message1[] = "Diode Tester";
char message2[] = "BJT Tester";
char message3[] = "Result:";
char message4[] = "Short";
char message5[] = "Open ";
char message6[] = "Good ";
char message7[] = "BJT is";
char *type = "xxx";
char *BE_Info = "xxxxx";
char *BC_Info = "xxxxx";
unsigned int select, test1, test2, update_select, detail_select;
unsigned int BE_Junc, BC_Junc, EB_Junc, CB_Junc;
void debounce_delay(void){
Delay_ms(200);
}
void main() {
ANSEL = 0b00000000; //All I/O pins are configured as digital
CMCON0 = 0?07 ; // Disbale comparators
PORTC = 0;
PORTA = 0;
TRISC = 0b00000000; // PORTC All Outputs
TRISA = 0b00111000; // PORTA All Outputs, Except RA3 (I/P only)
Lcd_Init(); // Initialize LCD
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR); // CLEAR display
Lcd_Cmd(_LCD_CURSOR_OFF); // Cursor off
Lcd_Out(1,2,message1); // Write message1 in 1st row
select = 0;
test1 = 0;
test2 = 0;
update_select = 1;
detail_select = 0;
do {
if(!SelectButton){
debounce_delay();
update_select = 1;
switch (select) {
case 0 : select=1;
break;
case 1 : select=0;
break;
} //case end
}
if(select == 0){ // Diode Tester
if(update_select){
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,2,message1);
Lcd_Out(2,2,message3);
update_select=0;
}
TRISA = 0b00110100; // RA0 O/P, RA2 I/P
TestPin1 = 1;
test1 = TestPin3 ; // Read I/P at RA2
TestPin1 = 0;
TRISA = 0b00110001; // RA0 I/P, RA2 O/P
TestPin3 = 1;
test2 = TestPin1;
TestPin3 = 0;
if((test1==1) && (test2 ==1)){
Lcd_Out(2,10,message4);
}
if((test1==1) && (test2 ==0)){
Lcd_Out(2,10,message6);
}
if((test1==0) && (test2 ==1)){
Lcd_Out(2,10,message6);
}
if((test1==0) && (test2 ==0)){
Lcd_Out(2,10,message5);
}
} // End if(select == 0)
if(select && !detail_select){ // Transistor Tester
if(update_select){
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,2,message2);
update_select = 0;
}
// Test for BE and BC Junctions of n-p-n
TRISA = 0b00110101; // RA0, RA2 I/P, RA1 O/P
TestPin2 = 1;
BE_Junc = TestPin1 ; // Read I/P at RA0
BC_Junc = TestPin3; // Read I/P at RA2
TestPin2 = 0;
// Test for EB and CB Junctions of p-n-p
TRISA = 0b00110110; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P
TestPin1 = 1;
EB_Junc = TestPin2;
TestPin1 = 0;
TRISA = 0b00110011; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P
TestPin3 = 1;
CB_Junc = TestPin2;
TestPin3 = 0;
if(BE_Junc && BC_Junc && !EB_Junc && !CB_Junc){
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,message6);
type = "n-p-n";
BE_info = "Good ";
BC_info = "Good ";
}
else
if(!BE_Junc && !BC_Junc && EB_Junc && CB_Junc){
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,message6);
type = "p-n-p";
BE_info = "Good ";
BC_info = "Good ";
}
else {
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,"Bad ");
type = "Bad";
}
}
if(select && !Detail){
debounce_delay();
switch (detail_select) {
case 0 : detail_select=1;
break;
case 1 : detail_select=0;
break;
} //case end
update_select = 1;
}
if(detail_select && update_select){
// Test for BE Junction open
if(!BE_Junc && !EB_Junc){
BE_info = "Open ";
}
// Test for BC Junction open
if(!BC_Junc && !CB_Junc){
BC_info = "Open ";
}
// Test for BE Junction short
if(BE_Junc && EB_Junc){
BE_info = "Short";
}
// Test for BC Junction short
if(BC_Junc && CB_Junc){
BC_info = "Short";
}
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,1,"Type:");
Lcd_Out(1,7,type);
Lcd_Out(2,1,"BE:");
Lcd_Out(2,4,BE_info);
Lcd_Out(2,9,"BC:");
Lcd_Out(2,12,BC_info);
update_select = 0;
} // End if (detail_select)
} while(1);
}
Autor: Koltykov A.V.; Publicación: cxem.net
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