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Medidor de capacitancia en un elemento lógico. Enciclopedia de radioelectrónica e ingeniería eléctrica.

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Enciclopedia de radioelectrónica e ingeniería eléctrica. / Tecnología de medición

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El medidor de capacitancia propuesto está construido en un único chip lógico. Dos elementos D1.1 y D1.2 forman un generador de impulsos, en cuyo circuito de retroalimentación se conectan las cadenas de ajuste de frecuencia RP1-C1, RP1-C2... RP2-C5 mediante el interruptor S5. La frecuencia de los pulsos depende de sus calificaciones. en consecuencia, el rango de capacitancias medidas. En la posición "1" S1 se pueden medir capacitancias hasta 50 pF, en "2" - hasta 500 pF, en "3" - hasta 5 nF, en "4" - hasta 50 nF y en "5" - hasta 0.5 µF.

Medidor de capacitancia en elemento lógico

Los elementos lógicos D1.3 y D1.4 sirven como amortiguador. Están conectados en paralelo para garantizar una corriente de carga suficiente para el condensador medido Cx. Este condensador, junto con VD1, VD2 y C6, forma un rectificador de duplicación de voltaje. La tensión rectificada se suministra al cabezal de medición PA1 (Iр=1 mA. Rr=240 Ohm), cuya desviación de la flecha depende directamente de la capacitancia Cx.

El dispositivo se configura por separado para cada rango. Los condensadores de referencia (con capacitancia conocida) se toman como Cx. Las resistencias ajustadas ajustan la aguja del instrumento a la división de escala requerida.

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El principal factor de ahorro es el cambio de la memoria SLC NAND a la MLC NAND más asequible, fabricada mediante un proceso de 25 nm. Las unidades de la serie se ofrecerán en dos versiones: en forma de tarjetas de expansión HHHL (Half-Height Half-Length) y en cajas de 2,5 pulgadas. En el primer caso, la interfaz PCI-Express x8 se utiliza para la transferencia de datos, en el segundo, PCI-Express x4. En consecuencia, las especificaciones de las unidades también varían.

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